2015年第六届中国聚焦离子束技术及学术交流研讨会顺利举行

2015年11月18日至20日，第六届中国聚焦离子束（FIB）技术及学术交流研讨会在我校天工大厦成功召开。本次会议由中国电子显微镜学会FIB专业委员会主办、北京科技大学新金属材料国家重点实验室承办。副校长何民庆教授出席会议并讲话。

本次会议受到国内外同行的广泛关注和支持，来自从事聚焦离子束研究与应用的高等院校、科研院所及设备厂商的120余名代表参加了会议，与会代表就FIB在微纳尺度制造能力进行了深入的交流，本次会议促进了本领域学者的沟通交流，实现信息共享，有助于提升我国科技人员在该另一图的专业技术能力和应用研究水平。会后参会代表参观了新金属材料国家重点实验室，并对聚焦离子束扫描电镜使用维护及深度开发进行了热烈的交流与讨论。

（责编：吕佳慧）